Hệ thống Kiểm tra Điốt

Bộ kiểm tra hỏng vỡ cứng (DIODE) SZ 410 A

  Một xung dòng điện không đổi được áp dụng trong một khoảng thời gian nhất định theo hướng ngược của diode để kiểm tra sự chống chịu xung của diode.        Please click for more information.    

Thiết bị kiểm tra hỏng nhanh với tác động xung mạnh (DIODE) CV - 30 KB

  CV - 30 KB là một bộ kiểm tra thực hiện kiểm tra ESD ở điện áp cực cao 30 kV và kiểm tra trạng thái suy giảm của thành phần thông qua việc đo dòng rò và đo điện áp chịu được sau đó. Đo dòng rò được thực hiện trước và sau khi áp dụng xung mạnh và kiểm…

Hệ thống kiểm tra IFSM (DIODE) IFRM 530 Z

  IFRM 530 Z là một thiết bị kiểm tra thu được dòng xung tiến IFRM của diode và đảm bảo khả năng chịu đựng.        Please click for more information.    

Bộ kiểm tra IFSM (DIODE) IFSM-10ZZRPB

  IFSM - 10ZZRPB đảm bảo khả năng chịu đựng IFSM bằng cách liên tục áp dụng IFSM lên đến 1000 A và đo giá trị điện áp đỉnh tại thời điểm đó. Đến 2 diode có thể được sử dụng cho việc đo lường, và trong trường hợp 2 thành phần, việc đo lường xen kẽ liên…

Bộ kiểm tra IFSM (DIODE) IFSM-45ZZ

  IFSM - 45ZZ là một thiết bị kiểm tra áp dụng IFSM lên đến 4500 A và đảm bảo khả năng chịu đựng của IFSM (chỉ có một lần đo). Thời gian nửa sóng có thể thay đổi từ 1.0 ms đến 11.0 ms.        Please click for more information.    

Bộ kiểm tra TRR (DIODE) TRR-M1A

  TRR-M1A được lựa chọn với dòng IF, IR là 100 mA và 1A. Phạm vi đo: từ 20 ns đến 80.000 μs.          

Bộ kiểm tra VFR (DIODE) VFR 510 Z

  VFR 510Z là một thiết bị kiểm tra đo dòng điện bằng cách cho dòng điện chảy với tốc độ cao theo hướng tiến của diode và kết nối một điện áp và thời gian phục hồi tiến với một oscilloscope. Tốc độ của diF / dt được đảm bảo là 500 A / us.        Please…