Diode test systems

Bộ kiểm tra hỏng vỡ cứng (DIODE) SZ 410 A

Thiết bị kiểm tra hỏng nhanh với tác động xung mạnh (DIODE) CV - 30 KB

CV - 30 KB là một bộ kiểm tra thực hiện kiểm tra ESD ở điện áp cực cao 30 kV và kiểm tra trạng thái suy giảm của thành phần thông qua việc đo dòng rò và đo điện áp chịu được sau đó. Đo dòng rò được thực hiện trước và sau khi áp dụng xung mạnh và kiểm…

Liên hệ

Hệ thống kiểm tra IFSM (DIODE) IFRM 530 Z

Liên hệ

Bộ kiểm tra IFSM (DIODE) IFSM-10ZZRPB

IFSM - 10ZZRPB đảm bảo khả năng chịu đựng IFSM bằng cách liên tục áp dụng IFSM lên đến 1000 A và đo giá trị điện áp đỉnh tại thời điểm đó. Đến 2 diode có thể được sử dụng cho việc đo lường, và trong trường hợp 2 thành phần, việc đo lường xen kẽ liên…

Liên hệ

Bộ kiểm tra IFSM (DIODE) IFSM-45ZZ

IFSM - 45ZZ là một thiết bị kiểm tra áp dụng IFSM lên đến 4500 A và đảm bảo khả năng chịu đựng của IFSM (chỉ có một lần đo). Thời gian nửa sóng có thể thay đổi từ 1.0 ms đến 11.0 ms. Please click for more information.

Liên hệ

Thiết bị đo thời gian phục hồi ngược của bán dẫn (N / P DIODE) TRRZ-N 05 M / TRR-PN 100 A / TRDI-PN 100

Liên hệ

Bộ kiểm tra TRR (DIODE) TRR-M1A

Liên hệ

Bộ kiểm tra VFR (DIODE) VFR 510 Z

VFR 510Z là một thiết bị kiểm tra đo dòng điện bằng cách cho dòng điện chảy với tốc độ cao theo hướng tiến của diode và kết nối một điện áp và thời gian phục hồi tiến với một oscilloscope. Tốc độ của diF / dt được đảm bảo là 500 A / us. Please…

Liên hệ